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cover Caracterización elipsométri...
Caracterización elipsométrica de materiales dieléctricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra óptica para el sector aeroespacial : memoria para optar al grado de doctor
[Universidad Complutense], Servicio de Publicaciones [2007]
Tesis y escritos académicos

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Título:
Caracterización elipsométrica de materiales dieléctricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra óptica para el sector aeroespacial : memoria para optar al grado de doctor / presentada por Alberto Álvarez Herrero ; bajo la dirección de los doctores Héctor Guerrero Padrón, David Levy Cohén
Editorial:
Madrid : [Universidad Complutense], Servicio de Publicaciones, [2007]
Descripción física:
1 disco (CD-ROM) ; 12 cm
Mención de serie:
Tesis doctorales. Ciencias exactas y de la naturaleza
Tesis:
Tesis--Universidad Complutense de Madrid, 2002
Bibliografía:
Bibliografía
Copyright/Depósito Legal:
M 1008-2007, Oficina Depósito Legal Madrid
ISBN:
84-669-1724-1
Punto acceso adicional serie-Título:
Tesis doctorales (Universidad Complutense de Madrid. CD-ROM). Ciencias exactas y de la naturaleza

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