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cover Dynamic characterisation of...
Dynamic characterisation of analogue-to-digital converters
Springer 2005

The Analogue-to-digital converter (ADC) is the most pervasive block in electronic systems. This book presents an overview of the methods and procedures employed for characterising ADCs dynamic performance behaviour using sinusoidal stimuli. It describes the three classical methods - histogram, sine wave fitting, and spectral analysis

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Título:
Dynamic characterisation of analogue-to-digital converters / by Dominique Dallet and José Machado da Silva (eds.).
Editorial:
Dordrecht : Springer, 2005
Descripción física:
1 online resource (xx, 280 pages) : illustrations
Mención de serie:
The Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 860. Analog circuits and signal processing
Bibliografía:
Includes bibliographical references and index
Contenido:
ADC Characterisation Based on Sinewave Analysis -- ADC Applications, Architectures and Terminology -- Sinewave Test Setup -- Time-Domain Data Analysis -- Frequency-Domain Data Analysis -- Code Histogram Test -- Comparative Study of ADC Sinewave Test Methods -- Measurement of Additional Parameters -- Jitter Measurement -- Differential Gain and Phase Testing -- Step and Transient Response Measurement -- Hysteresis Measurement
Lengua:
English
Copyright/Depósito Legal:
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ISBN:
9780387259031
0387259031
0387259023
9780387259024
128061076X
9781280610769
6610610762
9786610610761
Materia:
Autores:
Enlace a formato físico adicional:
Print version: Dynamic characterisation of analogue-to-digital converters., Dordrecht : Springer, 2005 0387259023 9780387259024 (DLC) 2006401454 (OCoLC)61882219
Punto acceso adicional serie-Título:
Kluwer international series in engineering and computer science. Analog circuits and signal processing
Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 860

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